缺陷磁痕的評定可采(cai)用以(yi)下規(gui)定： 

1）除確認(ren)顯示(shi)痕跡是由外界幾何因素或操作(zuo)不當(dang)造成的之(zhi)外，其他大于或等于0.5mm的顯示(shi)痕跡均應作(zuo)為(wei)缺(que)陷側很處(chu)理；

2）長度(du)(du)與寬(kuan)度(du)(du)之比(bi)大于3的(de)缺陷(xian)(xian)(xian)顯示磁痕(hen)，則按線性(xing)缺陷(xian)(xian)(xian)處理；長度(du)(du)與寬(kuan)度(du)(du)之比(bi)小于或等于3倍(bei)的(de)缺陷(xian)(xian)(xian)顯示跡痕(hen)，則按圓形缺陷(xian)(xian)(xian)進行(xing)處理；

3）兩(liang)條或兩(liang)條以上(shang)缺陷(xian)顯(xian)示跡(ji)痕在同一直線上(shang)，其(qi)間距(ju)小于或等于2mm時(shi)，則按(an)一條缺陷(xian)處理，其(qi)長度為顯(xian)示跡(ji)痕長度之(zhi)和加(jia)間距(ju)；

4）磁粉檢驗的(de)所有缺陷磁痕(hen)的(de)尺(chi)寸、數量以及產(chan)生部位均應記(ji)錄(lu)，并圖(tu)示。磁痕(hen)的(de)記(ji)錄(lu)可采用膠帶(dai)法(fa)、照(zhao)相法(fa)以及其他(ta)有效(xiao)的(de)方法(fa)。

以(yi)上(shang)內容摘自《齒(chi)輪傳動設(she)計手冊(ce)》 化學(xue)工業出(chu)版社

兆威機電通過在齒輪及齒輪箱領域多年的設計、開發、生產，通過行業的對比及大量的實驗測試數據設計開發出行星減速電機,微型減速電機,齒輪箱電機,減速齒輪箱電機。