兆威機電通過在齒輪及齒輪箱領域多年的設計、開發、生產，通過行業的對比及大量的實驗測試數據設計開發出行星齒輪箱,微型減速電機,齒輪箱電機

行星齒輪箱中缺陷(xian)磁痕的(de)評定可(ke)采(cai)用以下規(gui)定： 

1）磁粉檢驗的所有缺陷(xian)磁痕的尺(chi)寸、數量以(yi)及(ji)產生部位均(jun)應記錄，并圖(tu)示。磁痕的記錄可采(cai)用膠帶法(fa)、照相法(fa)以(yi)及(ji)其他有效(xiao)的方法(fa);

2）長(chang)度(du)與寬(kuan)度(du)之比大于(yu)3的(de)缺陷(xian)顯示磁痕，則按線(xian)性缺陷(xian)處(chu)理；長(chang)度(du)與寬(kuan)度(du)之比小于(yu)或(huo)等于(yu)3倍(bei)的(de)缺陷(xian)顯示跡痕，則按圓形缺陷(xian)進行處(chu)理；

3）兩條或兩條以上缺(que)陷顯示跡痕在同一直線上，其間(jian)距(ju)小于或等于2mm時(shi)，則按一條缺(que)陷處理，其長(chang)度(du)(du)為顯示跡痕長(chang)度(du)(du)之和加間(jian)距(ju)；

4）除確認顯示痕(hen)跡是(shi)由外界幾(ji)何因素或操作(zuo)不當造(zao)成的之(zhi)外，其他大于或等于0.5mm的顯示痕(hen)跡均應作(zuo)為缺(que)陷側很處理.

以(yi)上內容摘自《齒輪傳動設計手(shou)冊(ce)》 化(hua)學工(gong)業出版社

兆威機電成立來，教授,博士,碩士等組成的微型減速電機研發團隊，為博世等研發生產微型減速電機，齒輪箱電機，行星齒(chi)輪(lun)箱等產品(pin)，因為專(zhuan)注，所(suo)以。